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主な特許歴

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1.X線式坪量測定装置
2.O型フレーム及び測定装置
3.放射線測定方法
4.放射線測定方法および放射線測定装置
10.X線管
12.放射線検査装置
13.膜厚測定方法および装置
14.放熱機構
15.X線測定装置
17.放射線測定方法及び放射線測定装置
23.多層膜の膜厚測定方法およびその装置
24.放射線検出装置及びこの装置を用いた放射線検出方法
27.繊維配向強度の較正方法
28.繊維配向角の較正方法
29.移動量測定機能付きセンサおよび測定装置
30.X線式厚さ測定装置
33.フィルム特性測定装置
34.シート端検出装置
35.インフレーション装置
36.プリント基板の製造方法
37.配向計
39.タイヤ空気圧測定システムおよびタイヤ空気圧測定方法
40.物理量測定方法
41.配向測定方法及び配向測定装置
43.空気緩衝袋製造方法及び装置
44.幅方向プロファイル測定方法およびその装置
45.シート状物質のプロファイル測定方法
46.厚さ測定装置及びその測定方法
47.測定位置のずれ補正方法およびそれを用いたシート状製品の幅方向プロファイル測定装置
48.ブローンフィルム製造装置
49.インフレーション装置
51.プロファイル測定装置
54.中空状物体の特性値測定方法およびそれを用いた特性値測定装置
55.位置制御装置およびそれを用いた厚さ計
56.光学的厚さ計
57.アラーム表示のための信号調節回路
58.抄紙機/塗工機制御装置
59.繊維配向計
62.スキャン型センサの位置ずれ補償装置
63.ガスの供給制御装置
64.ウェハ搬送装置
66.レ-ザダイオ-ドアレイを用いた露光装置

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